随着电子技术的不断发展，对于精密微小（纳米级）的微电子器件，要去测试它的基本电性能或磁性能，就需要有一种高精度探针座，通过显微镜将被测元件放大，用高精度微探针进行扎针，外部连接测试主机进行测试和分析。Avantgarde 室温磁场探针台（PSM-PM-4）为样品材料在磁场下提供一个测试环境，外部连接测试主机可用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要的霍尔参数。还可以在室温下对芯片、晶圆和器件进行非破坏测试。

Avantgarde室温手动探针台的主要用途是为半导体芯片的电参数测试提供一个测试平台，外接不同的测量仪器，配合测量仪 器可完成集成电路的电压、电流、电阻以及电容电压特性曲线等参数检测，用于室温下的芯片、晶圆和器件的非破坏测试。