Nanometrics HL5500PC霍尔效应测试系统
HL5500PC霍尔效应测试系统主要用于研究半导体材料（包括硅和化合物半导体以及金属氧化物薄膜）、光电材料等的电学特性，使用范德堡法可以测量材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数及载流子类型。
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HL5500PC霍尔效应测试系统产品参数 |
（1）样品固定方式：弹簧探针或引线焊接
（2）温度：70~730K；80~580K；70~580K；80~730K；室温~730K（可选）
（3）磁场：5000Gauss永磁铁，5000Gauss电磁场， 1.4T电磁场（可选）
（4）电阻率：10-6~1013 Ohm*cm
（5）载流子迁移率：10-2~109 cm2/volt*sec
（6）载流子浓度：102~1022cm-3
（7）电流范围：0.1 pA~10mA
（8）电压范围：+/-2.5V，最小可测到6X10-6 V
（9）电阻范围：10 m Ohms~ 10G Ohms
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HL5500PC霍尔效应测试系统产品特点 |
其选用的磁铁为永磁铁，外形小巧，磁场强度的一致性及精度非常好。
整个测试系统采用ALL IN ONE 设计理念，将测试平台，液氮系统,磁铁等部件全部放于一个模块中，及节省了空间，又让使用者操作非常方便。
此设备可以支持多达数种测试样品模式，如VDP，BRIDGE，BAR等。
其采用探针方式与材料表面接触，无须另外焊接测试线，同时具备BLAST功能，较低电阻值的样品无须做欧姆接触，可直接做数据测量。
对低迁移率材料或高阻材料的测试同样保持高的精度。
和其它厂商比较，该设备具有数据准确，操作方便，适于大电阻材料或低迁移率材料测试，可根据不同样品选择样品形式，占地小，功耗低，噪音低，性能价格比高等优点。
控制软件功能强大,操作简单,可直接打印测试数据.
